国家自然科学基金（青年项目）：“基于AFM中空探针的自动化精准细胞注射方法研究”，2021年1月—2023年12月，主持

国家自然科学基金（重点项目）：“面向细胞局部精准置换的自动纳米操控方法研究”，2017年1月—2021年12月，参与

国家自然科学基金（重点项目）：“基于数据挖掘与机器学习的重要能源转化过程电催化剂的设计与创新”，2020年1月—2024年12月，参与

期刊论文:      

1. Y. Wu, Y.Fang, C. Wang, Z. Fan, C. Liu, An optimized scanning based AFM fast imaging method, IEEE/ASME Transactions on Mechatronics, 2020, 25(2): 535-546. 

2. Y. Wu, Y. Fang, C. Liu, Z. Fan, C. Wang, Gated recurrent unit based frequency-dependent hysteresis modeling and end-to-end compensation, Mechanical Systems and Signal Processing, 2020, 136, 106501.  

3. Y. Wu, Y. Fang, C. Wang, C. Liu, Z. Fan, A high-speed atomic force microscopy with super resolution based on path planning scanning, Ultramicroscopy, 2020, 213: 112991.

4. Y. Wu, Z. Fan, Y. Fang, C. Liu, An effective correction method for AFM image distortion due to hysteresis and thermal drift, IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 2020, 70: 1-12.   

5. Y. Wu, Y. Fang, Z. Fan, C. Liu, A novel frequency-dependent hysteresis model based on improved neural Turing machine, SCIENCE CHINA Information Sciences, 2021, Doi: 10.1007/s11432-020-3157-5. 

6. Y. Wu, Y. Fang, Z. Fan, C. Wang, C. Liu, An automated vertical drift correction algorithm for AFM images based on morphology prediction, Micron, 2021, 140: 102950.      

7. Y. Wu, Y. Fang, X. Ren, H. Lu, A wavelet-based AFM fast imaging method with self-tuning scanning frequency, IEEE Transactions on Nanotechnology, 2017, 16(6): 1088-1098.     

8. Y. Wu, Y. Fang, X. Ren, A high-efficiency Kalman filtering imaging mode for an atomic force micrscopy with hysteresis modeling and compensation, Mechatronics, 2018, 50: 69-77. 

9. 武毅男, 方勇纯, 樊志，王超，刘存桓，胡子琦，基于几何特征相似度评价的跨尺度显微图像配准, 控制理论与应用, 2020, 37(09): 1913-1922.     

10. 武毅男, 方勇纯, 基于Preisach模型的深度学习网络迟滞建模, 控制理论与应用, 2018, 35(6): 4-12. 

会议论文：     

1. Y. Wu, Y. Fang, X. Ren, A bi-direction asymmetric fast scanning method, Proceedings of the 2014 IEEE International Conference on Manipulation, Manufacturing and Measurement on the Nanoscale, 2014, 171-176. 

2. Y. Wu, Y. Fang, X. Ren, X. Zhang, Active disturbance rejection control design for atomic force microscopy in Z-axis, Proceedings of the 2015 Chinese Control Conference, 2015, 1064-1069.  

3. Y. Wu, Y. Fang, X. Ren, H. Lu, Back propagation neural networks based hysteresis modeling and compensation for a piezoelectric scanner, Proceedings of the 2016 IEEE International Conference on Manipulation, Manufacturing and Measurement on the Nanoscale, 2016, 119-124. 

4. Y. Wu, Y. Fang, X. Ren, A high-efficiency atomic force microscopy image mode based on Kalman filtering, Proceedings of the 2016 Chinese Control Conference, 2016, 9128-9133.

5. Y. Wu, Y. Fang, X. Liu, X. Ren, J. Guo, X. Yuan, Millimeter scale global visual field construction for atomic force microscopy based on automatic image stitching, Proceedings of the 2017 IEEE International Conference on Manipulation, Automation and Robotics at Small Scales, 2017, 1-5. 

6. Y. Wu, Y. Fang, Parameter self-turning fuzzy PID controller design for atomic force microscopy in z-axis. Proceedings of the 2018 IEEE International Conference on CYBER Technology in Automation, Control, and Intelligent Systems, 2018,1024-1029.

7. Y. Ren, Z. Fan, Y. Wu, C. Liu, C. Wang, Design of Vision Assistant System for an Atomic Force Microscopy Based on Object Detection, Proceedings of the 2019 IEEE International Conference on Manipulation, Manufacturing and Measurement on the Nanoscale, 2019. （通讯作者） 

8. Z. Hu, Z. Fan, C. Liu, Y. Wu, C. Wang, Geometrical Patterns Based Cross-scale Image Registration for AFM and Optical Microscopy, Proceedings of the 2019 IEEE International Conference on Manipulation, Manufacturing and Measurement on the Nanoscale, 2019. （通讯作者） 

中国自动化学会青年工作委员会会员

Frontiers in Neurorobotics, Review Editor

2019 International Conference on Manipulation, Manufacturing  and Measurement on  the Nanoscale (3M-NANO), Session Chair

2021 International Conference on Electrical Engineering, Control and Robotics (EECR), Technical Committee Member, Session Chair